Otomatik Optik İnceleme (AOI) Sistemlerinde Kullanılan Aydınlatma Türleri ve Lehim Analizine Etkileri

Otomatik Optik İnceleme (Automatic Optical Inspection – AOI) cihazlarında aydınlatma seçimi, görüntü kalitesi kadar hata tespit doğruluğunu da doğrudan etkileyen en kritik parametrelerden biridir. Farklı ışık türleri, farklı yüzey özelliklerine ve analiz ihtiyaçlarına göre özel olarak tasarlanmıştır. Bu yazıda AOI sistemlerinde kullanılan temel aydınlatma türlerini, avantajlarını ve özellikle lehim kontrolündeki ideal kombinasyonları ele alıyoruz.


1) Lateral Diffuse (ADIFF) – Yanal Difüz Işık

Işığın parçaya yandan ve dağınık şekilde geldiği aydınlatma türüdür.

Özellikler:

  • Parlak yüzeylerde parlamayı önemli ölçüde azaltır.
  • Homojen bir aydınlatma oluşturur.
  • Mat yüzey kusurlarını, baskı kalitesini ve çizikleri daha görünür hâle getirir.

Kullanım Alanları:

  • Etiket ve baskı kontrolü
  • Genel yüzey hataları
  • Parlak olmayan objelerin incelenmesi

2) Wide Angle Diffuse (BDIFF) – Geniş Açılı Difüz Işık

Işık yüzeye geniş bir açıdan ve difüz olarak yayılır, her noktaya eşit ulaşır.

Özellikler:

  • Parlak ve yansıtıcı yüzeylerde en başarılı aydınlatma türlerinden biridir.
  • Parlamayı minimuma indirir.

Kullanım Alanları:

  • Metal yüzeyler
  • Parlak plastik malzemeler
  • Logo, yazı, baskı kontrolü

3) Top Light Diffuse (AUD) – Üstten Difüz Aydınlatma

Kubbe tarzı bir difüz yapıyla üstten gelen homojen ışık sağlar.

Özellikler:

  • Yansıma kontrolü yüksektir.
  • Parlamayı neredeyse tamamen yok eder.

Kullanım Alanları:

  • Genel yüzey kontrolleri
  • Çıkıntısız yüzeylerde kontrast artırma

4) Top Light (AUFL) – Üstten Direkt Işık

Bu ışık türü, yüzeye direkt yukarıdan uygulanır ve belirgin gölgeler oluşturur.

Özellikler:

  • Yükseklik farklarını, kenarları ve çukurları en iyi gösteren ışıktır.
  • AOI cihazlarında en kritik ışık modlarından biridir.

Kullanım Alanları:

  • Derinlik farkı analizi
  • Delik, çukur, kenar tespiti

5) Illumination.ILL_COLOR_TREND_ORTH – Renk Trend Analiz İşığı

Renk doğruluğu için kullanılan özel bir dikey aydınlatma modudur.

Kullanım Alanları:

  • Renk kalite kontrolü
  • Ambalaj ve baskı denetimi
  • Boya, ton farkı izleme

6) Diffuse (DIFF) – Genel Difüz Işık

Basit fakat etkili bir difüz ışık türüdür.

Özellikler:

  • Her yüzeyi eşit şekilde aydınlatır.
  • Parlamayı azaltır ve yüzeydeki dokuyu ortaya çıkarır.

Kullanım Alanları:

  • Genel görüntüleme
  • Parlamasız yüzey inceleme

7) Illumination.ILL_LEVEL_0 / LEVEL_1 – Işık Şiddeti Seviyeleri

Bu modlar ışık şiddetini ayarlamak için kullanılır.

  • LEVEL_0: Yumuşak ve düşük ışık
  • LEVEL_1: Daha güçlü ve kontrast artırıcı ışık

Kullanım Alanları:

  • Farklı parlaklıktaki yüzeylerde ışık optimizasyonu

8) Under Wide Diffuse (UWDIFF) – Alttan Geniş Difüz Işık

Aydınlatma geniş difüz olarak alt taraftan gelir.

Kullanım Alanları:

  • Film, cam ve şeffaf plastik yüzeyler
  • Delik/slot kontrolü
  • Kontur analizi

9) Wide Angle Diffuse (WDIFF) – Çok Geniş Açılı Difüz Işık

BDIFF’e göre daha geniş bir kapsama sahiptir.

Özellikler:

  • Aşırı parlak metal yüzeylerde kusurları “süt banyosu” etkisiyle görünür kılar.

Kullanım Alanları:

  • Parlak metal yüzeyler
  • Ayna benzeri materyaller
  • Yüksek parlama kontrolü gerektiren durumlar

Hangi Aydınlatma Ne İçin? – Özet Tablo

Aydınlatma TürüEn Uygun Kullanım Alanı
AUFL (Top Light)Yükseklik farkı, kenar ve çukur tespiti
AUD / DIFFHomojen yüzey aydınlatma, baskı kontrolü
ADIFF / BDIFFParlak yüzeylerde parlamasız görüntü
WDIFFAşırı parlak metal yüzeyler
UWDIFFŞeffaf/ince parçalar, kontur analizi
COLOR_TRENDRenk doğruluğu ve ton analizi
LEVEL_0 & 1Işık şiddeti ayarı

Lehim Analizinde Hangi Aydınlatmalar Kullanılır?

Lehim analizi, AOI sistemlerinde aydınlatma seçiminin en kritik olduğu uygulamalardan biridir. Hem yükseklik farkları hem yüzey dokusu hem de parlama kontrolü doğru ışığa bağlıdır.


1) Top Light (AUFL) – Zorunlu Aydınlatma

Lehim kabarıklığını, fillet açısını ve yükseklik farklarını en net gösteren ışıktır.

Avantajları:

  • Direkt üst ışık lehim üzerinde gölgeler oluşturur.
  • Bu gölgeler fillet yapısını ve lehim kalitesini belirginleştirir.
  • AOI’de “good fillet / bad fillet” ayrımı için olmazsa olmazdır.

2) Difüz Aydınlatmalar (DIFF / ADIFF / BDIFF) – Parlama Kontrolü

Lehim yüzeyleri parlak olduğu için difüz aydınlatma oldukça kritiktir.

Tespit Edilen Hatalar:

  • Lehim topaklanması
  • Mikro çatlaklar
  • Islaklık / matlık farklılıkları
  • Flux kalıntıları
  • Oksitlenme

Tercih Sırası:

  1. BDIFF → En iyi parlama azaltma, en dengeli sonuç
  2. ADIFF → Fillet yan yüzeylerini görmek için ideal
  3. DIFF → Genel kullanım

3) WDIFF – Aşırı Parlak Lehimler İçin

Yeni lehimlenmiş ve yüksek parlama yapan yüzeylerde en temiz görüntüyü sunar.


Lehim Analizi İçin En Doğru Kombinasyon Hangisi?

Standart SMD Lehim Kontrolleri:

AUFL (Top Light) + BDIFF veya WDIFF

Fillet açısı, lehim şekli veya yükseklik analizi:

AUFL zorunlu

Parlama çok fazlaysa:

WDIFF veya BDIFF

Çatlak, mat bölge, oksit analizi:

DIFF / ADIFF


Sonuç

Lehim analizi için önerilen en pratik yaklaşım:

1️⃣ Önce AUFL (Top Light) ile yükseklik ve fillet yapısını belirginleştir
2️⃣ Parlama fazlaysa BDIFF veya WDIFF ile yüzey dokusunu netleştir

Bu iki aydınlatma türü, AOI sistemlerinde en yüksek doğrulukla lehim hatası yakalamak için ideal kombinasyondur.

Bir yanıt yazın

E-posta adresiniz yayınlanmayacak. Gerekli alanlar * ile işaretlenmişlerdir